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全反射X熒光技術在痕量元素檢測中的應用

發布日期: 2019-07-23
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高沸點石油化工產品及其衍生物中痕量元素的檢測是一項挑戰性工作,目前檢測手段主要為AAS、ICP-OES、EDXRF等。 樣品測量結果與樣品前處理息息相關。前處理方法包括稀釋樣品,灰化法分解樣品,濕法分解樣品等。但是這些前處理手段都有其不足之處,如高溫易揮發元素損失、耗時、使用 的酸易污染等。 溶劑稀釋是一種快速、簡單的方法,但是稀釋樣品,由于基體效應等因素很容易造成測量結果誤差過大,并且由于樣品的稀釋,容易導致樣品中本來就含量很低的目標元素低于儀器的檢出限,從而造成該元素無法檢測。因此,找到一種兼顧檢出能力且前處理簡單的檢測方法變得猶為重要。
 
全反射X熒光(TXRF)分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。
 
TX2000全反射X熒光光譜儀可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量,可進行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應用在環境分析(水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物),制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),法醫學(微小證據分析),化學純度分析(酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑),油品分析(原油、輕質油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半導體材料分析(揮發相分解),核材料工業(放射性元素分析)。
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