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X射線衍射儀可以檢測物質材料的微觀結構性質

發布日期: 2020-07-15
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X射線衍射技術(XRD)是通過對樣品進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的一種儀器,是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。
單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣,主要用于確定未知晶體材料的晶體結構?;驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律,也即解出晶體的結構。
多晶衍射儀也被稱為粉末衍射儀,被測對象通常為粉末、多晶體金屬或高聚物等塊體材料。

X射線衍射儀可解決的問題:
1.當材料由多種結晶成分組成,需區分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結晶相的比例;
2.很多材料的性能由結晶程度決定,可使用XRD結晶度分析,確定材料的結晶程度;
3.新材料開發需要充分了解材料的晶格參數,使用XRD可快捷測試出點陣參數,為新材料開發應用提供性能驗證指標;
4.產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象,可能涉及微觀應力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應力;
5.納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。



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