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全反射X射線在元素分析領域內的應用前景非常棒

發布日期: 2021-10-21
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  全反射X射線由X射線激發源、全反射光路系統、探測器、放大器、脈沖高度分析器和配置的計算機組成。主要是利用全反射將激發源一次X射線在樣品上由散射引起的背景大大降低,故精度很高。它檢測靈敏度高,可達納克級以上(10-9¬——10-12g),定量分析簡單,無集體效應操作簡單。
  由于TXRF分析技術用樣量很少,也不需要制作樣品的煩瑣過程,又沒有本底增強或減弱效應,不需要每次對不同的基體做不同的基體校準曲線。另外由于使用內標法,對環境溫度等要求很低。因而在簡便性、經濟性、用樣量少等方面,都比WXRF方法有明顯的優越性。
  在元素分析領域內的應用現狀和發展前景都是令人鼓舞的。它可以廣泛應用于地礦、冶金、化工、食品、生物、醫藥、環保、法檢、考古、高純材料等等各領域內的常量、微量、痕量元素分析測定。特別在半導體工業中的硅片表面質量控制方面,有著不可替代的優勢,目前已在國際上得到廣泛應用。
  1、地礦:金礦、銅精料和鎳精料、螢石、長石、氧化銻;
  2、冶金:鎳電解液、銅陽極泥、高冰鎳中的貴金屬、光譜純Rh、金銀首飾、鑄鐵、軸承;
  3、化工:柴油中的硫含量,各種催化劑,陶瓷釉藥;
  4、環境保護:自來水、大氣飄塵、污水污泥;
  5、生物:海洋動物牙齒和體液;
  6、醫藥:頭發和指甲中的有益有害元素,丹參中有害微量元素;
  7、食品:飲料中有益和有害元素;
  8、刑偵法醫:撞車現場樣品鑒定。
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