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直流電弧光譜儀在地質樣品調查中的應用

發布日期: 2022-07-29
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  直流電弧光譜儀采用高靈敏度CMOS作為檢測器,波段范圍內實現全譜采集,可廣泛應用于地質、有色、化工等行業。該儀器特點是無需樣品溶解,對粉末樣品直接進行分析,對難溶粉末樣品中微量及痕量元素進行定性、定量分析。交流、直流電弧切換方便,根據測試不同的樣品,選擇合適的激發模式,有利于提高分析測試效果。尤其對于區域地質調查樣品中的Ag、Sn、B、Mo等指標的測試是理想儀器方案。
  利用直流電弧光譜儀調查時,每條譜帶實踐上是由許多緊挨著的譜線組成,帶狀光譜是分子在其振蕩和轉動能級間躍遷時輻射出來的,通常坐落紅外或遠紅外區,經過對分子光譜的研究可了解分子的結構。一般由入射狹縫和準直物鏡組成,入射狹縫坐落準直物鏡的焦平面上。對于儀器后面的體系而言,入射狹縫成為替代的、實踐的光源,限制著進入儀器的光束。由狹縫處發出的光束經準直物鏡后,變成平行光束投向色散體系。以機械掃描和成像組件一起組合完結三維信息的獲取,取得必定視場的“色立方體”三維數據。掃描組織完結其間一維空間信息的獲??;成像器件完結另一維空間和光譜維信息的獲??;由圖像收集和預處理軟件實時組成,輸出到標準的處理軟件包,把成像光譜傳感器掃描取得的圖像轉換成包含空間和光譜信息的定量數據。
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